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  • 正电子寿命谱测量系统-数字转换器

经典三级视频在线观看 正电子寿命谱测量 正电子寿命谱测量系统-数字转换器

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  • 型号 正电子寿命谱测量
  • 品牌
  • 所在地 北京市
  • 更新时间 2017-07-21
  • 厂商性质 代理商
  • 所在地区 北京市
  • 实名认证 已认证
  • 产品数量 7
  • 人气值 749
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熠新科技有限公司

致力于高速信号采集和数据处理,目前主要产品有AD数据采集卡、DA数据回放卡、数字IO卡、高速采集回放系统。另外还提供数据采集方面的一些系统集成和定制开发服务。我们坚信,在当今社会只有专注才能专业,熠新科技有限公司专注于高速数据采集和数据处理,相信我们的专注能为用户提供省心、放心的解决方案。

产品

AD 数据采集卡采样率从100KS/s-5GS/s,精度从8bit到16bit,单卡Z多能到16个通道,通过板间同步技术,可以实现几百个通道同步采集。采集卡形态种类非常丰富,有PCIe、PCI、PXI、PXIe以及网线接口等,所有接口都是通用接口,能兼容市面上同种接口类型的机箱。

DA 数据回放卡更新率Z高能到1.25GS/s,精度从8bit到16bit,单板Z多支持4路同步回放,通过板间同步技术,可以实现几百个通道同步回放信号,DA数据回放卡形态种类非常丰富,有PCIe、PCI、PXI、PXIe以及网线接口等,所有接口都是通用接口,能兼容市面上同种接口类型的机箱。

数字 IO 卡采样速率从几十M到几百M,Z高能到720MB/s,单卡能现实8、16、32、64路信号的采集。

也同样有非常丰富的接口形态。

应用方向

产品主要能应用到激光测距、激光成像、雷达探测、超声成像、质谱、粒子物理、激光雷达、天文探测、芯片测试和自动化测试等方向。

客户

目前公司主要客户有高校(清华大学、北京大学、中国科学技术大学、北京航空航天大学、北京理工大学等)、*研究所(电子所、光机所、物理所等)、航天集团、中船重工、核工业集团和仪器设备制造厂商等。

点击展示更多内容
产地 进口 覆盖频率 3000MHz 加工定制
适用行业 电子电器 显示方式 数显式
正电子寿命测量法用于半导体材料中空位型缺陷的测量。这是一种带有测量装置和电源的全寿命正电子寿命测量系统。在寿命(时间)测量系统中,时间是用3GS/s采集卡来测量的,进来信号是由两BaF2的闪烁体产生的高速脉冲信号。在符合多普勒展宽的情况下,用两个锗半导体探测器符合的波高值制成二维直方图。此外,这些设备可以用来测AMOC,这个寿命和动量相关。
正电子寿命谱测量系统-数字转换器 产品详情

正电子寿命测量法用于半导体材料中空位型缺陷的测量。这是一种带有测量装置和电源的全寿命正电子寿命测量系统。在寿命(时间)测量系统中,时间是用3GS/s采集卡来测量的,进来信号是由两BaF2的闪烁体产生的高速脉冲信号。在符合多普勒展宽的情况下,用两个锗半导体探测器符合的波高值制成二维直方图。此外,这些设备可以用来测AMOC,这个寿命和动量相关。

Feature

功能: Lifetime、CDB和AMOC

ADC: 时间:2CH 3GSPS 8bit

CDB :2CH 100MSPS 14bit

时间分辨: FWHM(半高宽) 192ps (511keV@22Na, BaF2 闪烁体) FWHM(半高宽) 160 – 190 ps (Silica)

能量分辨: 1.23keV(512keV@106Ru) 1.69keV(1.33MeV@60Co)

PMT高压 : 2CH, -4000V 对于Ge(锗)半导体: 2CH, +5000V ※包括前放

接口: Ethernet (TCP/IP)

附件包括应用指导手册

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