伊诺斯Innov-X Systems 新推出的移动式X系列矿石分析仪，功能强大，便于携带，是同类分析仪的基准。X系列仪器采用10W，50Kv的射线管，超大探测面的探测器，多种分析模式，6个光束滤波器，是目前市场上功能大的移动式分析仪。这款仪器的硬件配置特别适合 La, Ce,Pr, Nd, Pm,& Sm等稀有元素及其它探测元素如，Y，Ba,Nb,Ta & Zr的分析。同时也很适合测Mg, Al, Si P, S, K & Ca等轻元素。
Innov-X X系列矿石分析仪系统规格：
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尺寸 |
外形尺寸：328x280x380mm； 展开尺寸：328x690x460mm； 样品室尺寸：287x145x114mm； |
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重量 |
26lbs；11Kg |
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环境要求 |
环境湿度0~95%；环境工作温度-20℃~50℃；亮黄 |
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激发源 |
0~50kV多段可选择的电压；200uA |
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探测器 |
有SI-PIN；SDD；等不同的探测器可选择 |
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冷却系统 |
采用了Peltier恒温冷却系统，探测器在-35℃下工作，保证仪器 |
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滤波器 |
6个滤波片可自动切换 |
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电压、电流 |
电压15~40kv,电流可达200uA |
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电力要求 |
10~240VAC；50~60Hz, 最小电力100W |
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主机供电系统 |
10~240VAC；50~60Hz交流电； 锂电池组、适配器，适配器DC输出16.4V 3A（可选项) |
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显示器 |
整机一体化设计，工业级高分辨率TFT 触摸显示彩屏10英寸，分辨率800*600 |
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显示器固定方式 |
一体机设计,整机连体构造，可防尘,防雾,防水,极大的降低了故障率 |
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数据显示 |
百分比%和ppm显示元素含量，动态显示，元素可排序 |
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数据存储 |
内存504M，硬盘18.6G |
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处理器CPU |
Intel Pentium CPU,Processor 1.40Ghz，RAM504M
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操作系统 |
Microsoft Windows XP ,SP2
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Innov-X X系列矿石分析仪用途：
Innov-X X系列矿石分析仪模式与元素：
可分析从镁矿（Mg）到铀矿（U）之间的83种金属矿、非金属矿、贵重金属矿、稀有金属矿等自然矿，分析范围从PPM到99%
Innov-X X系列矿石分析仪应用界面：
Innov-X X系列矿石分析仪技术性能：
1.采用10W，50Kv的射线管，具有实验室的精度，是目前世面上功能大的移动式分析仪。
2.采用多光束技术，使重金属元素、过渡元素、轻质元素的分析效果达到 只需直接接触待测物表面，即可现场确定矿石等级、元素鉴定。
3.可以检测的样品如矿石、岩石、岩芯、矿渣、碎片；土壤、 泥土、泥浆、粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层；废水、废油、等等的固体、液体物质。
4.可添加并很好地测试贵重金属元素Au、Pt、Ag、Ru、Rh、Pd稀有元素La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm等的现场移动式分析仪。
5.工业级触摸式高清高分辨率彩色TFT触摸屏、电脑、仪器一体化密封设计，有很好的三防性能，可承受恶劣的工作环境。密封的仪器可在雨天、尘土飞扬的室外环境中长时间稳定工作。
6.真正实现了现场快速、准确的检测，直接显示元素的ppm含量与百分比含量。
7.仪器内置风扇，散热性好，根本性解决XRF仪器存在的散热问题。
8.采用Windows XP SP2操作系统，可外接USB、鼠标、键盘、打印、INTERNET等通用外设，具有良好的兼容性。
9.超大规模的存储系统，内存504M，硬盘18.6G可存储数据高达86万组数据及图谱。
10.具有自动校准、诊断、故障报告功能，可通过INTERNET远程诊断机器故障与软件升级
Innov-X X系列矿石分析仪LOD
测试样品为匀质SiO ,无干扰元素，测试时间为120秒，LOD值单位为PPM；
多段电压、单段电压与不同元素的LOD的关系表明多段电压可以对不同的元素有很好的LOD下图为X-5000对SiO2 的120秒检测结果。
Innov-X X系列矿石分析仪：
1. 模式：Soil（3 Beam）、Mining、 2 Beam Mining
2. 硅漂移SDD探测器（Si drift）
3. 10W X射线管
4. 能测试Mg、Al、Si、P、S…
