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晶体定向仪

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  • 型号
  • 品牌
  • 所在地 北京市
  • 更新时间 2022-04-05
  • 厂商性质 其他
  • 所在地区 北京市
  • 实名认证 已认证
  • 产品数量 807
  • 人气值 3069
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1.标准背向反射X射线CCDØ 有效感光面积:155(h)x105(v)mmØ 最小输入像元尺寸:57μmx57μmØ 像素分辨率:2774x1843Ø 牺牲分辨率条件下,可以增加像元灵敏度Ø 自动背景噪声减法模式Ø 18位高精度采集模式Ø 14位快速预览模式Ø 按照组件包括准直器 2.高亮度
晶体定向仪 产品详情

详细信息

1. 标准背向反射 X 射线 CCD

  • 有效感光面积: 155 h x105 v mm

  • 最小输入像元尺寸: 57 μ mx57 μ m

  • 像素分辨率: 2774x1843

  • 牺牲分辨率条件下,可以增加像元灵敏度

2. 高亮度 X 射线光源 / 发生器

  • 原始光束直接低至 0.3-0.4mm ,在额外的准直器条件下可以降低到 0.3mm 以下。

  • 搭配准直器条件下,最小 X 射线通量: >3x108 光子

  • 钨靶密封 X 射线管

  • 平均能量谱: 5-50 keV 轫致辐射

  • X 射线发生器:提供手动控制 kV 级高压以及电流设置。

3. 数据采集 / 劳厄图像处理系统

提供一套预配置数据采集电脑,通过自动扫描功能扫描蓝宝石样品,可以进行实时图像采集 / 显示,积分时间可低至几秒钟。图像通过千兆以太网接口传输到电脑,在电脑上显示并以 TIFF/BMP/JPEG 格式储存,采集软件允许可编程序列

        预装数据采集系统软件装载在 Wi n d ows 10 / 64 位系统上, 操作系统提供用户控制如下:

  • 曝光时间从 1毫秒 到几分钟

  • 像素合成: 1x1~8x8

  • 快速 14 &18 位高精度采集模式,用户可选噪声质量等级

  • 自动背景噪声减法模式

4. 劳厄图像信息管理系统

  • 定向分析软件在参考样本获取的预定义参考图像上显示样本晶向。标准系统通过非特征衍射斑点得到的精度 <0.3 度,通过特征衍射斑点可得到更高精度,手动按步骤进行对齐,可达 +/-0.04 度。

  • 输入 BMP/JPEG 格式,通过已知晶体结构和样品距离可获得小于 0.3 度定向精度,运用特征线可获得 +/-0.04 度定向精度。

  • 从样品扫描定位自动获取定位数据(三旋转轴),三斜晶系,单斜晶系,斜方晶系,四方晶系,三方晶系,六方晶系,立方晶系

  • 通常在 5 秒内从随机单晶硅晶向找到解决方案。

5.X 射线专用机箱

  • 装载在1500mm(长)x750mm(宽)x850mm(高)被动隔离台上,配有紧急停止按钮

  • 电缆夹持器

  • 电磁锁

  • 信号控制高电压开关和互锁状态

  • 指示灯,抽风机机用于光源和劳厄相机的制冷。

  • 用于 X 射线源, X 射线劳厄相机固定的安装夹具、托架。手动装配到 600 毫米(长)× 600 毫米(宽)面包板上。

  • 具有定位十字准线的样品观察相机:允许精细样本定位精度低至 0.1mm

  • X 射线闪烁体允许光束强度 / 位置检查

6. 三轴电动线性位移台

  • 垂直于光束轴线的定位: X+/-150mm Y+/-150mm 水平

  • 沿光束轴线定位: +/-20mm 垂直

  •  用于将测角仪组件安装到刚性面包板上的夹紧底座,与光源和劳厄探测器预对准,与所有轴连接的限位开关桥连接器。

  • 允许自动扫描序列的宏命令

7. 三轴电动测角仪

  • 顶部旋转高度设置为 20mm 高的倾斜台:旋转幅度 +/7 度和 +/-10 度垂直于光束轴,安装在平行于光束轴线的 360 度旋转底座上。所有轴的精度为 +/-0.06 度,限位开关连接器,用户提供晶体支架。

  • 用于将测角组件安装到刚性面包板上的夹紧底座,与源和劳厄相机预对准的平移台。

  • 从电动测角仪到手动测角仪 / 晶体切割工具的样品适配器板


8. 系统预装配置

  • 包括硅晶体(或蓝宝石)样品参考数据。在曝光时间 1 秒内, 4x4 像素合并下,快速对准到 0.3 度定位精度下获得典型 001 图案。在 10 秒内,全分辨率条件下获得 <0.1 度定位精度。


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