岛津／ Kratos X 射线光电子能谱仪 AXIS Nova
——成像自动型，业界
位于英国曼切斯特的 Kratos 公司是早生产商品化 X 射线光电子能谱仪的厂家之一，现在是大的分析仪器制造公司——岛津公司的全资子公司。自 1997 年以来，岛津 /Kratos 公司研发了包括的磁沉浸透镜和的低能电子荷电中和系统等一系列新技术的新型光电子能谱仪—— AXIS Ultra ，并于 2002 年底推出了使用二维阵列检测器——延迟线检测器（ Delay-Line Detector ）的自动型 AXIS Nova 型 XPS 谱仪。截至 2014 年 1 月底，在世界上已经销售了超过 100 台 AXIS Nova 型 XPS 谱仪，在世界上许多的大学、科研机构和企业公司中得到了高度的认可，在业界处于地位。
技术特点：
Axis Nova 采用大功率 X 光源和浸入式磁透镜设计以获取的检测灵敏度，同时采用 165mm 大平均半径的双聚焦半球扇形能量分析器，可以获得的 XPS 谱线能量分辨。在检测器端， Axis Ultra DLD 采用位于能量分析器出口中心位置上的第二代的二维阵列延迟线检测器，可以同时记录光电子的信号强度及其发射位置，亦可以在数秒的时间里获取完整的 XPS 谱图。
Axis Nova 采用与静电传输透镜同轴的超低能单电子源荷电中和器，*各类绝缘样品的 XPS 分析任务，尤其是对于表面凸凹不平的样品（典型的是粉末样品和断口样品），可以获得的分析结果。
Axis Nova 使用的与采谱能量分析器同心的球面镜能量分析器，可以获得高空间分辨的平行光电子图像，亦即可以获得元素的不同化学状态的二维分布。
Axis Nova 采用全自动的大样品台设计，样品可达 4 吋，可以利用进样室的光学显微镜确定分析位置，并在样品自动进入分析室以后实现预设位置上的全自动 XPS 分析。
