IKEIDARIKA池田理化电子显微镜JIB-4700F
TM4000 Ⅱ,TM4000Plus Ⅱ,JSM-IT700HR,JSM-IT800,AZtecOne,Quantax75,
Quantax75-60,JIB-4700F,JSM-IT200 InTouchScope,JCM-7000 NeoScope
IKEIDARIKA池田理化 电子显微镜 JIB-4700F
IKEIDARIKA池田理化 电子显微镜 JIB-4700F
TM4000 Ⅱ,TM4000Plus Ⅱ,JSM-IT700HR,JSM-IT800,AZtecOne,Quantax75,
Quantax75-60 ,JIB-4700F,JSM-IT200 InTouchScope,JCM-7000 NeoScope
日立台式显微镜 Miniscope特征:
直观的操作支持目标数据创建报告 ,自动获取各种数据。
新设计的电子光学系统实现了更高的图像质量 ,电子束条件可以根据目的切换,即使在低真空下也可以对二次电子图像进行三维观察(仅限TM4000Plus)。
由于无油排气系统 ,可以安装在任何地方电源容量100V,5A,无油泵允许安装在任何地方。
多种选件，可供选择能量色散 X射线光谱仪，可安装三维构建和测量软件。
肖特基场发射扫描电子显微镜 JSM-IT700HR提供300nA(是传统型号的15倍)电流的电子枪,让您在观察和分析时有余地感。此外,它还有一个侧重于简单操作的用户界面、紧凑的设计和一个大的样品室,以及一个重新设计的框架的抗震工厂,使它比实际看到的更容易。有具有低真空能力的LV型号和具有低真空能力和EDS元素分析仪的LA型号。
JSM-IT800配备了用于高分辨率观察的"镜头内肖特基Plus场发射电子枪"、下一代电子光学控制系统"Neo Engine"以及易于使用的高分辨率系统。JSM-IT800具有混合镜头版本,即通用FE-SEM,以及超级混合镜头版本,可实现更高分辨率的观察和分析。以及半入式-专门观察半导体样品的镜头版本。此外,JSM-IT800可配备新型背散射电子探测器、闪烁体背散射电子探测器和多用途背散射电子探测器。SBED可以获取具有良好响应性和低加速电压的材料对比图像。VBED可以获取3D、不均匀度和材料对比度图像,因此可以期待获取到现在无法获取的信息并改进麻烦的测量。
能量色散 X 射线光谱仪元件特征:
用于固定式 SEM的EDS的性能,现在可以安装在TM4000II的台式显微镜上,该显微镜已被采用。
Si3N4窗口用于高灵敏度Si3N4,窗口检测器。优化低能量X射线的传输。可以对特别难以检测的轻元素进行高灵敏度分析。
高 X 射线计数率,与传统的聚合物窗口探测器相比,Si3N4窗口探测器提高了X射线计数率。实现了快速映射和改进的检测限。
能量色散 X射线光谱仪AZtecOne/AZtecLiveOne特征:
图标按操作流程顺序排列 ,操作简单。
通过一致的光谱显示轻松确认元素重叠。
使用 TruMap功能分离并正确显示具有重叠峰的元素。
能量色散 X射线光谱仪Quantax75/Quantax75-60特征:
操作简单快速的彩色 X光图。
Hypermap可在单次测量中获得点分析、线分析和绘图结果。
可以通过移动光点位置来确认光谱。
组合光束加工观察装置 JIB-4700F特征:快速分析；高速加工；增强检测系统；可扩展性；3D观察、3D分析；舞台联动功能；图片叠加系统；
JSM-IT200是一款经济高效的扫描电子显微镜,其功能比型号JSM-IT500更简单易用。初学者友好的样品交换导航使设置样品、搜索视野和开始观察SEM图像变得容易。Zeromag等分析作业用软件,可以像使用光学显微镜一样搜索视野,Live Analysis可以在不注意分析的情况下看到元素分析的结果。
台式扫描电子显微镜 Neoscope JCM-7000 NeoScope特征:
3种观察模式(高真空、低真空、电荷减少模式)。
观察区域广 (视场40×40mm)。
可以使用内置的 CCD相机获取支架上样品的彩色图像。容易找到视野。
自动对齐会自动调整灯丝轴。
Wehnelt 集成灯丝,任何人都可以更换,并且自动对轴。
