详情介绍：
特殊长度
- 支持从薄膜到厚膜的各种膜厚
- 使用反射光谱进行膜厚分析
- 紧凑且价格低廉，实现了非接触，无破坏的高精度测量
- 简便的条件设置和测量操作！ 任何人都可以轻松测量薄膜厚度
- 通过峰谷法，频率分析法，非线性*小二乘法，优化方法等，可以进行各种各样的膜厚测量。
- 通过非线性*小二乘薄膜厚度分析算法可以进行光学常数分析（n：折射率，k：消光计数）。
测量项目
- 优良反射率测量
- 膜厚分析（10层）
- 光学常数分析（n：折射率，k：消光计数）
测量目标
-
功能膜，塑料
透明导电膜（ITO，银纳米线），相位差膜，偏光膜，AR膜，PET，PEN，TAC，PP，PC，PE，PVA，胶粘剂，胶粘剂，保护膜，硬涂层，抗指纹， 等等。 -
半导体
化合物半导体，硅，氧化膜，氮化膜，抗蚀剂，SiC，GaAs，GaN，InP，InGaAs，SOI，蓝宝石等。 -
表面处理
DLC涂层，防锈剂，防雾剂等 -
光学材料
滤镜，增透膜等 -
FPD
LCD（CF，ITO，LC，PI），OLED（有机膜，密封剂）等 -
其他
硬盘，磁带，建筑材料等
- 产品信息
- 原则
- 规格
- 设备配置
相关信息
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