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仪表网>产品库>分析检测>无损伤检测>膜厚计>三高SANKO膜厚计SWT-7000III SWT-7200Ⅲ

三高SANKO膜厚计SWT-7000III SWT-7200Ⅲ

参考价
面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号
  • 品牌
  • 所在地
  • 更新时间 2023-05-09
  • 厂商性质 其他
  • 所在地区 深圳市
  • 实名认证 已认证
  • 产品数量 1496
  • 人气值 4510
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深圳市安川测量仪器有限公司是一家专业从事各类测量仪器、测量工具、电镜耗材、工业化工用品、科学实验仪器设备、生产加工消耗品、安全防护劳保用品、手动工具、电动及气动工具、光学仪器、焊接工具、研磨工具、等各类进口工具产品的综合服务贸易商,从事进口工业品贸易已有十年之久,公司拥有完善的供应链和熟练的电子销售模式以及充足的库存,为客户提供一个种类齐全、*、优质的销售平台,公司拥有专业的销售团队、技术团队、的管理团队,通过全体员工的不懈努力,凭借在工业品领域的专业水平和成熟技术,公司服务于电子消费类、半导体,液晶光电,汽车业、造船业、地铁、等专业用户里的世界500强企业。目前公司已和多家海外厂商建立了长期,稳定的合作关系,并获得了多家品牌的中国代理。 安川凭借着专业的销售代理经验、赢得了广大客户的信任,并将进的信息技术、高科技产品、快速、高效的供应给客户,为中国各地工厂及公司提供优质的产品和的服务,公司多年来秉承的方针是以诚信,高品质、快速的货期给客户提供便利服务,得已能够在日渐激烈的竞争当中还能发展壮大,我们通过减少中间环节,降低客户成本,并提供便利的配送服务,将,高性价比的产品送到每个客户的手上
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产品简介: 三高SANKO膜厚计SWT-7000III SWT-7200Ⅲ SWT系列探头可互换。  ◆ 两用型 : FN-325   ◆ 铁材用 : Fe系列      ◆ 非铁材 : NFe系列
三高SANKO膜厚计SWT-7000III SWT-7200Ⅲ 产品详情

三高SANKO膜厚计SWT-7000III SWT-7200Ⅲ

三高SANKO膜厚计SWT-7000III SWT-7200Ⅲ

SWT 系列探头可互换。

 ◆两用型 : FN-325

 ◆铁材用 : Fe系列

 ◆非铁材 : NFe系列

SWT-7200Ⅲ探头可互换、保存、统计计算、数据传送等的高功能机型

●可根据用途来选择探

●在LCD画面上显示操作的顺序。

●大容量的测定值存储器

 (9200:20000个

●设定的检量线可简单使用测量

●内存设置上下限值、统计演算功能。

●可连接USB向电脑进行数据的传送。

用    途

●涂层/衬层/镀金

●耐酸层

规    格

测量范围 连接探头(另卖)

显示方式 LCD画面

检量线校正 2点校正式

检量线存储 10根

测量值存储 20000个

数据传送 USB

电    源 单3电池(1.5V)×2

专用电源线

 附带自动关机功能

使用温度 0 40

尺寸重量 72(W)×30(H)×156(D)mm

约200g

附属品  收纳袋

 专用电源线

  USB连接线、USB软件

探    头 测量的底材金属的不同进行选择

·铁底材用(Fe)

·非铁底材用(NFe)

·铁底材·非铁底材两用(FN-325)

(请参照专用探头页)

探测头型号

FN-325

测量方式

电磁式 · 涡电流式两用(铁 · 非铁底材自动识别)

测量范围

铁底材: 0 3.00mm 、非铁底材: 0 2.50mm

表示分辨率

1μm 0 999μm 的切换(铁 · 非铁共通)

  0.1μm 0 400μm (铁 · 非铁共通)

  0.5μm 400 500μm (铁 · 非铁共通)

0.01mm:1.00 3.00mm (铁底材)

0.01mm:1.00 2.50mm (非铁底材)

测量精度

(平滑表面)

0 100μm :1μm (铁 · 非铁共通)

或者是指示值的 ±2% 以内

101μm 3.00mm:±2% 以内(铁底材)

101μm 2.50mm:±2% 以内(非铁底材)

探测部

1 点定压接触式、 V 形切口、 φ13×52mm 72g

选择产品

V 形探测头套有 3 种( φ5 以下用、 φ5 10 用、 φ10 20 用)

附属品

标准校正板、试验用零校正板、(铁用 · 非铁用)

测量对象

铁底材:铁 · 钢等磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂膜、

电镀(电解镍除外)等

非铁底材:铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘皮膜等

一般较普遍的测量物用

SWT-7000 Ⅲ系列机型

机型

SWT-7000

SWT-7100

SWT-7200

测量范围

连接的探测头不同测量范围也不同。

显示方式

液晶显示 LCD (数据 · 提示信息)、背光灯

检量线校正

2 点校正方式(零校正、标准校正)

检量线存储

铁、非铁各 1

10

测量值存储

20,000

数据传送

USB

USB

统计功能

内藏

附加功能

背光灯 测量模式的切换(普通/连续) 检量线、校正值的删除

 ● 自动关机功能(约 3 分以上不操作时,机器会自动关机) 分辨率的切换

 ● 上下限值的设定( SWT-7200

电源

3 电池  ×2

3 电池  ×2 专用电源线

使用温度

0 40C° (不结露)

机体尺寸 · 重量

72 W ×30 H ×156 D mm 重量  210g

附属品

干电池、收纳袋子

干电池、收纳袋子、电源线、 USB 线、 USB 软件( CD

追加产品

铁材金属用探测头( Fe )、非铁材金属用探测头( NFe

· 非铁材用探测头( FN-325






SWT-7000 Ⅲ系列的铁材金属用探测头 1)(Fe

型号

Fe-2.5/2.5L

Fe-2.5LwA

Fe-0.6Pem

测量方式

电磁感应式

测量范围

0 2.50mm

0 600μm

表示分解率

1μm 0 999μm

切换

  0.1μm 0 400μm

 0.5μm 400 500μm

  0.01mm:1.00 2.50mm

1μm 0 600μm

切换

0.1μm 0 400μm

  0.5μm 400 500μm

测量精度

(平滑面)

0 100μm:±1μm

又或者时显示值的 ±2% 以内

  101μm 2.50mm ±2%

0 100μm:±1μm

又或者时显示值的 ±2% 以内

101μm 600μm ±2%

探测部

1 点定压接触式

V 形口套头

  2.5 φ13×48mm

  2.5L:18×23×67mm

1 点定压接触式

测量部:约 20×57mm

全长:约 550  1.550mm

(伸缩式)

1 点定压接触式

  Φ5.6×94mm

选择产品

V 形套头 /—

φ5 以下用、 φ5 10 用、 φ10 20 用)

附属品

标准校正片

试验用零校正板

(铁用)

标准校正片

试验用零校正板(铁用)

收纳袋子

标准校正片

试验用零校正板

(铁用)

测量对象

· 钢等的磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂层、电镀层(电解镍的电镀层除外)等等

· 钢等的磁性金属底材是个的皮膜、衬层等等手不能进去、高的地方、有距离的地方的涂层厚度的测量。

· 钢等磁性金属底材上的涂层、衬层等狭小的地方、小的部位的涂层的膜厚测量。

SWT-7000 Ⅲ系列的铁材金属用探测头 2)(Fe

型号

Fe-10

Fe-20

测量方式

电磁感应式

测量范围

0 10mm

0 20mm

表示分解率

1μm 0 999μm

0.01mm:1 10mm

  1μm 0 999μm

0.01mm:1 5mm

0.1mm:5 20mm

测量精度

(平滑面)

0 3mm ± 5μm +显示值的 3%

  3.01mm :显示值的 ±3%

探测部

1 点定压接触式

V 形口套头

φ18×47mm

1 点定压接触式

V 形口套头

φ35×59mm

选择产品

附属品

标准校正片、试验用零校正板(铁用)

测量对象

· 钢等磁性金属底材的比较厚的涂层用

· 钢等磁性金属底材上的厚涂层用

探测头要根据需要购买。

SWT-7000 Ⅲ系列的非铁材金属用探测头 NFe

型号

NFe-2.0/NFe-2.0L

NFe-06

NFe-8

测量方式

涡电流式

测量范围

0 2.00mm

0 600μm

0 8mm

表示分解率

1μm 0 999μm

切换

0.1μm 0 400μm

  0.5μm 400 500μm

  0.01mm:1.00 2.00mm

1μm 0 600μm

切换

0.1μm 0 400μm

 0.5μm 400 500μm

1μm 0 999μm

0.01mm 1 8mm

测量精度

(平滑表面)

0 100μm:±1μm

又或者时显示值的

±2% 以内

101μm 2.00mm

  ±2% 以内

0 100μm:±1μm

又或者时显示值的

±2% 以内

101μm 600μm

  ±2% 以内

0 100μm:±1μm

± ±1μm +显示值的 ±2%

101μm 8mm

  ±2% 以内

探测部

1 点定压接触式

V 形口套头

2.0 φ13×47mm

2.0L 18×23×67mm

1 点定压接触式

V 形口套头

φ11×48mm

1 点定压接触式

V 形口套头

φ35×61mm

选择产品

V 形套头 /-

附属品

标准校正片、试验用零校正板(非铁用)

测量对象

铝、铜等非磁性金属底材

上的绝缘性皮膜等一般普

通测量物用。

铝、铜等非磁性金属底

材上的绝缘性皮膜等

细小的圆棒、细管、小

物件等的高安定性用。

铝、铜等非磁性金属

底材上的绝缘性皮膜等

比较厚的测量物用。

探测头要根据需要购买。


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