赛默飞 ELEMENT GD PLUS 辉光放电质谱仪结合了辉光放电离子源和双聚焦高分辨率质量分析器，可以定性定量分析固体样品中包括C、N、O在内的几乎所有元素，是直接、快速分析高纯样品杂志含量和镀层材料元素组成的zui 佳工具。
了解如何借助
赛默飞 ELEMENT GD PLUS 辉光放电质谱仪为固体中高级高纯度材料的直接分析定义新的标准。通过限度减少校准和样品制备操作，可提高样品处理量并达到超低检测限，从而使 GD-MS 适合整块金属分析和深度剖析应用。
陶瓷和其他几种非导电粉末使用二次电极法进行分析，从而提供相同水平的灵敏度和数据质量。这使得 GD-MS 成为痕量金属分析的可靠标准方法。
存在于固体样品中的几乎所有元素都可进行常规检测和定量：许多元素的含量低于十亿分率 (ppb) 水平。
µs 脉冲式高流速辉光放电池
采用脉冲放电模式的高灵敏度离子源
广泛可调的溅射速率适用于快速进行整体分析和高级深度剖析应用
使用二级电极进行氧化铝粉末分析
双聚焦质谱仪
高离子传输率和低背景使得信噪比可达亚 ppb 级检测限
高质量分辨率可提供zui高水平的选择性和准确度：是*的分析结果的先决条件
十二数量级的自动检测系统
在一次分析中测定基体和超痕量元素，全自动检测器涵盖 12 数量级动态线性范围
直接定量测定基体元素 IBR（离子束比率）
高效率和简单易用的软件包
所有参数均由计算机控制
全自动调谐、分析和数据评估
自动 LIMS 连接性
远程控制和诊断
Windows 7
样品周转时间通常少于 10 分钟
能够在一次分析中测定基体元素到超痕量元素
深度剖析涵盖数百微米到一纳米的层厚度
最小化基体效应，便于进行直接定量
