技术参数：
1、
X
射线发生器功率为
3KW
、新型
9KW
转靶
2、测角仪为水平测角仪
3、测角仪步进为
1/10000
度，高精度测角仪
(
双光学编码、直接轴上定位
)
4、测角仪配程序式可变狭缝
5、自动识别所有光学组件、样品台
6、
CBO
交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带
Mirror
）
7、小角散射测试组件
(SAXS / Ultra SAXS)
8、多用途薄膜测试组件
9、微区测试组件、
CBO-F
微区光学组件
10、
In-Plane
测试组件
11、入射端
Ka1
光学组件
12、高速探测器
D/teX-Ultra
（能量分辨率
20%
以下）
13、二维面探
PILATUS 100K/R(
用于同步辐射环的探测器，可以接收直射
X
射线
)
14、智能的测量分析软件
SmartLab Guidance
主要特点
:
智能
X
射线衍射仪
SmartLab
系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品
主要的应用有：
1.
粉末样品的物相定性与定量分析
2.
计算结晶化度、晶粒大小
3.
确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld
定量分析
5.
薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
6. In-Plane
装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7.
小角散射与纳米材料粒径分布
8.
微区样品的分析
