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ADEPT 1010 ADEPT 1010 动态二次离子质谱仪

参考价
面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号 ADEPT1010
  • 品牌
  • 所在地 上海
  • 更新时间 2024-01-21
  • 厂商性质 其他
  • 所在地区 上海
  • 实名认证 已认证
  • 产品数量 167
  • 人气值 964
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动态二次离子质谱仪(D-SIMS)是使用一次离子束(通常是Cs源)轰击样品表面,而产生二次离子,然后用质谱分析仪分析二次离子的质荷比(m/q),从而得知元素在样品中的深度分布,是分析半导体掺杂和离子注入的有力的工具。
ADEPT 1010 动态二次离子质谱仪 产品详情

优势

ULVAC-PHI 新设计的四极杆-二次离子质谱仪 ADEPT 1010,在原有的 PHI 6300 和 PHI 6600 的基础上,改善了离子光学系统,是在一次离子能量低至 250eV 时,仍保持有效的溅射束流的动态二次离子质谱系统(D-SIMS)。


特点

大束流低能量离子枪设计,提高了深度分辨率

高性能离子光学系统,改善了二次离子传输效率,在提高分析效率的同时又提高了检测灵敏度

高精度全自动 5 轴样品操控台

不同方向进入检测器的二次离子,均可被高灵敏地收集检测

应用实例分析

采用一次离子源 Cs 在加速 5kV 束流为 100nA 的条件下,分析 GaAs 中注入的 H,C,O 元素。可以看到 H 检测限值 7.1 × 10 16 atm/cm 3 O 检测限值 4.4 × 10 15 atm/cm 3 ,C 检测限值 2.0 × 10 15 atm/cm 3


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