清和光学制作所SWIR-5200内部观察显微镜SEIWA OPTICAL
半导体内部观察显微镜SWIR-5200，双目体视显微镜，变倍双目体视显微镜SKZ系列，SKZ-2(2+60+13+20+40-C)，SKZ-4（2+60+13+25-B+40-C），SKZ-1（2+60+13+20），SKZ-5（2+60+19-A），SKZ-6（2+60+13），测量显微镜SMJ-5
清和光学制作所 SWIR-5200 内部观察显微镜 SEIWA OPTICAL
清和光学制作所 SWIR-5200内部观察显微镜 SEIWA OPTICAL
半导体内部观察显微镜 SWIR-5200 ， 双目体视显微镜 ， 变倍双目体视显微镜 SKZ 系列 ， SKZ-2(2+60+13+20+40-C) ， SKZ-4 （ 2+60+13+25-B+40-C ）， SKZ-1 （ 2+60+13+20 ）， SKZ-5 （ 2+60+19-A ）， SKZ-6 （ 2+60+13 ）， 测量显微镜 SMJ-5 ， SMJ-7 ， SMJ-8 ， 通孔镜 PC-2
产品介绍
半导体内部观察显微镜 SWIR-5200
半导体内部观察显微镜
SWIR-5200 型，配备 1.3 兆 SWIR 相机这是一种
利用红外光的透射和反射特性
来观察硅晶片、芯片、 MEMS 和 CSP 等半导体器件内部的
显微镜。搭载
配备 1 像素 5 μ m 、 1.3MP 的 SONY IMX990 的 SWIR 相机，
即使是近红外图像也能获得高分辨率图像。 ・使用
成像镜筒和
针对近红外 1100-1700nm 区域设计的 PEIR 物镜系列，配合 SWIR 相机具有高灵敏度，即使在厚晶圆和高密度晶圆上也能获得高对比度图像。
・高功率 A 近红外设置卤素光源，即使使用 100 倍物镜也能获得明亮的图像。
配备 8 英寸晶圆安装台，还可以提供防振台和晶圆装载机等选件。
双目体视显微镜
变倍双目体视显微镜 SKZ 系列
目镜： SWF10X
物镜： 0.75X-4.5X （变倍比 6:1 ）
总放大倍率： 7.5X-45X
视场数： 29.3mm-4.8mm
工作距离： 90mm
变焦头： 45 ° 倾斜、 360 ° 旋转、屈光度调节、瞳孔宽度调节 50-75mm
焦点调节：微调 = 齿轮齿条式 50mm 操作
照明装置：环形荧光照明装置
* 也可提供白色 LED 环形照明。
测量显微镜
体积小且易于操作的测量显微镜，让您可以在狭小的空间内工作。
通孔镜
通过自由改变 PC-2
板内壁的视角，可以检查小孔的内表面。
观察表面时请使用可选照明。
您可以清楚地观察安装 IC 的电路板的焊接情况。
