产品应用
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批量生产环节中LD TO器件进行老化筛选
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长时间可靠性失效测试分析
产品特点
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提供每路独立的驱动电流
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软件切换支持各种类型封装LD器件的老化
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支持多种算法计算Ith
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ACC恒流模式和APC恒背光模式可选
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支持热插拔,可靠的ESD/EOS防护,保证器件老化期间的安全
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硬件支持小电流和大电流两个档位,兼容VECSEL和FP/DFB激光器
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64路老化板作为通用载体,可以实现盘测、老化不同工位直接的转料,提高生产效率
参 数 |
指 标 |
测试路数 |
单板64路,支持级联 |
LD监控电流 |
0-250mA |
PD反偏电压 |
0-5V |
LD正向电压 |
0-3V |
PD监控电流 |
0-2000uA |
管脚定义 |
软件切换支持各种封装类型的器件 |
LIV扫描 |
支持Im扫描计算Ith |
数据库 |
系统自带SQL数据库,可以追述保存LD测试的数据 |
工作要求 |
25℃±5℃、湿度≤50% |
存储要求 |
0℃~40℃、湿度≤50% |
尺寸(宽x高x深) |
482*67*550(mm) |
电源规格 |
220V/50HZ |
功率 |
220V 160W |