JIMA RT RC-04分辨率测试卡 返回列表页

JIMA（日本检测仪器制造商协会），致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

JIMA RT RC-04分辨率测试卡

• 测试卡封装在一个防护盒中
• 盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm
• 芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.015mm

图案布局：T型

线/空间尺寸：32种规格图案,
 

JIMA RT CT-01分辨率测试卡（于三维CT系统分辨率测试）
 

• 测试卡封装在一个防护盒中
• 图案布局：T型
• 线/空间尺寸：5种规格图案,

3μm,4μm,5μm,6μm,7μm

 JIMA RT RC-02分辨率测试卡

• 测试卡封装在一个防护盒中
• 盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm
• 芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm
• 图案布局：L型
• 线/空间尺寸： 16种规格图案,

 JIMA RT RC-05分辨率测试卡

• 测试卡封装在一个防护盒中
• 盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm
• 芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm
• 图案布局：T型 （3-10μm）
• I 型 （15-50μm）
• 线/空间尺寸：16种规格图案,