DP-LT-1-频光电导少子寿命测试仪/少子寿命测试仪-北京亚欧德鹏科技有限公司

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产品型号DP-LT-1

品牌亚欧

厂商性质生产商

所在地北京市

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更新时间：2017-09-04 06:53:12浏览次数：670次

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频光电导少子寿命测试仪/少子寿命测试仪型号：DP-LT-1

1、用途

用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有个测量平面外，对样块体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

2、 设备组成

2.1、光脉冲发生装置

重复频率＞25次/s 脉宽＞60μｓ光脉冲关断时间＜0.2-1μｓ

红外光源波长：1.06～1.09μm（测量硅单晶）脉冲电流：5A～20A

如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源
2.2、频源

频率：30MHz 低输出阻抗输出功率＞1W

2.3、放大器和检波器

频率响应：2Hz～2MHz

2.4、配用示波器

配用示波器：频带宽度不低于40MHz，Y轴增益及扫描速度均应连续可调。

3、测量范围

DP-LT-1可测硅单晶的电阻率范围：ρ≥3Ω·㎝（欧姆·厘米）,寿命值的测量范围：5～6000μｓ

北京亚欧德鹏科技有限公司

：010－51298264/51717270/

：曹

地址：北京市海淀区阜成路42号院12号楼A-302室

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