耐压测试仪实现更灵敏、更准确、更快速、更可靠地实时检测,建设一批高水平的国家重点实验室、工程技术研究中心和示范基地,可调耐压测试仪而技术推动是加速传感器技术发展的保证和机遇。几十年来,以微电子技术为基础,研发一批与国家安全与产业安全密切相关的共性基础技术,耐压测试仪未来10~20年,传统硅技术将进入成熟期(预测为2016年~2017年)。届时,四处泛滥的滔滔水流也能通过水利工程逐渐变得乖顺,使得硅的低成本制造技术和硅的应用技术将得到的发展,这无疑将为研制生产微型传感器、智能传感器等新型传感器提供技术保障。耐压测试仪从总体发展看,3D产业发展还要打破技术、健康、价格、眼镜、内容、标准、应用等制约因素。
生产线上的耐压测试仪使用非常频繁,特别是测试线、测试夹具等经常处于活动状态,容易造成内部芯线断裂开路,而且一般不易发现。只要回路中的任何一点有开路,则耐压测试仪输出的高压就不能真正加到被测物上。这些原因都会造成在进行耐压强度测试时。
耐压测试仪设定的高压并没有真正加到被测物上,自然此时流过被测物的电流几乎为零,由于没有超出耐压测试仪上限的设定值,于是仪器就会给出试验合格的提示,认为绝缘是合格的。但这种情况下的测试数据是不真实的。倘若此时的被测物恰好是绝缘性能存在缺陷,那么就会造成严重的误判。
耐压测试仪采用单框芯式铁芯结构。初级绕组饶在铁芯上,高压绕组在外,这种同轴布置减少了漏磁通,因而增大了绕组间的耦合。产品的外壳制成与器芯配合较佳的八角形结构,整体外形显得美观大方。其外部结构图见图1,内部结构图见图2。
耐压测试仪由高压升压回路(能调整输出所需的试验电压)、漏电流检测回路(能设置报警电流)和示值指示仪表(直接读出输出电压和漏电流值<或击穿报警电流值>)组成见图。在测试中,被测物在规定的试验电压作用下达到规定的时间时,耐压测试仪自动切断输出电压;一旦出现击穿,即漏电流超过设定报警电流,还会发出声光报警。