其它光学测量

摘要testo 465 - 光学转速测量仪（无接触测量转速）testo 465，转速仪套装：测量仪器，仪器软盒，包括反射标贴和电池。产品优势: 订货号 0563 0465单手操作保存平均值/zui大值/zui小值和上次读数坚固耐用，带保护套测量距离高达600 mm产品描...

摘要测量主轴采用优化方形设计，确保测量时运动性能的稳定性；拥有多种功能强大的附件可选，能满足不同测量要求；光栅照明系统采用低电压、小电流、体积小、寿命 长的红外发光器件做光源；仪器采用了高精密的测量系统，符合阿贝原理，测量精度高；采用进口光栅系统，精度高，稳定可靠；测 量...

摘要 LS103A光学透过率测量仪 玻璃/太阳膜/镀膜玻璃透光率检测仪

摘要三维光学密集点云测量系统I0M400与传统的三坐标测量仪和激光三维扫描仪相比，是一种高速高精度的三维扫描测量设备，系统具有速度快、精度高、易操作、可移动等特点，系统的软件和硬件可以根据需要专门进行开发和设计，技术实用性强，广泛适用于各种需求三维数据的行业，如汽车工业、...

摘要 SuperViewW白光形貌干涉仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

摘要中图仪器SuperViewW白光干涉三维光学形貌仪基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科...

摘要 SuperViewW国产白光干涉三维形貌仪用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。

摘要 MEDICAS红外热成像相机配备一个像素分辨率为640×512px的LWIR短波红外微测辐射热敏传感器，并提供一个用于获得热成像的RGB相机（1920x1080像素全高清分辨率）

摘要 WIRISPro配备一个LWIR长波红外微测辐射热传感器，分辨率为640×512像素（在7.5-13.5μm范围)，超分辨率模式可以提供高达1266x1010像素的热成像图，热敏相机可以测量高达1500°C的温度

摘要GTS机器人空间位置精度激光追踪仪是高精度、便携式的空间大尺寸坐标测量机，是同时具高精度（μm级）、大工作空间（百米级）的高性能光电测量仪器，被广泛应用在飞机、汽车、船舶、航天、机器人、核电、轨道交通装备制造行业以及大型科学工程、工业母机的高精密加工和装配中，已成为多...

摘要SuperViewW白光干涉三维形貌轮廓仪纳米级分辨率，非接触式测量各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、...

摘要 SuperViewW1白光干涉三维表面测量系统以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。它集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。

摘要 中图台式扫描电镜用于对样品进行微观尺度形貌观测和分析，标配有高性能二次电子探头和多象限背散射探头、并可选配能谱仪、低真空系统，能满足用户对多类型样品的观测需求，实现微观的形貌和元素分析等。

摘要 SuperViewW系列白光干涉仪三维表面测量系统以白光干涉技术为原理结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。

摘要 CEM3000大样品仓台式扫描电镜用于对样品进行微观尺度形貌观测和分析，台式扫描电镜无需占据大量空间来容纳整个电镜系统，这使其甚至能够出现在用户日常工作的桌面上，在用户手边实时呈现所得结果。

摘要 不同于立式电镜，CEM3000国内高分辨率台式扫描电镜无需占据大量空间来容纳整个电镜系统，这使其甚至能够出现在用户日常工作的桌面上，在用户手边实时呈现所得结果。

摘要 光伏组件检测仪内置存储空间，可以保存大量的EL图像。通常采用可充电锂电池供电，保证长时间工作。

摘要 el缺陷检测仪支持连续拍摄模式，可以在短时间内完成多块组件的检测。配备高灵敏度的摄像头，能够清晰地显示细微的缺陷。

摘要 光伏板检测仪器通常配有触摸屏或简单的按钮控制，方便设置参数和启动检测。能够迅速获取高质量的EL图像，提高工作效率。

摘要 便携式el检测仪设计轻巧，便于携带到不同地点进行现场检测。适合于户外作业，适用于各种安装环境下的光伏系统检查。

摘要 SuperViewW非接触式3D白光干涉仪基于白光干涉原理，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。

摘要 SuperViewW白光干涉微观三维形貌测量仪测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

摘要 SuperViewW纳米级微观三维形貌3D白光干涉仪主要用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。它能以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。

摘要 SuperViewW高精度纳米量级白光干涉测量仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。

摘要 中图仪器白光干涉仪国产三维形貌仪SuperViewW是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。

摘要 德国OWIS光学支架26.060.3803可用于所有方向手动翻转镜架，适用于 ø 38.1 mm (1.5“) x 6 mm，向右偏转

摘要 德国OWIS光学支架26.045.2603提供优异的稳定性手动翻转镜架，适用于 ø 25 mm / 25.4 mm (1“) x 5 mm，向左偏转

摘要 德国OWIS光学支架26.040.2603具有高精度的角度调整能力手动翻转镜架，适用于 ø 25 mm / 25.4 mm (1“) x 5 mm，向右偏转

摘要 德国OWIS光学支架26.025.1303也可提供电动版本手动翻转镜架，适用于 ø 12.5 mm / 12.7 mm (0.5“) x 3 mm，向左偏转

摘要 德国OWIS光学支架26.020.1303可从任何方向插入手动翻转镜架，适用于 ø 12.5 mm / 12.7 mm (0.5“) x 3 mm，向右偏转

摘要 德国OWIS光学支架14.110.0035适应不同实验需求用于安装直径 35 毫米光学器件的支架

摘要 德国OWIS光学支架14.110.0030耐蚀性较差用于安装直径 30 毫米光学器件的支架

摘要 德国OWIS光学支架14.110.0025可提供其他直径的夹头用于安装直径 25 毫米光学器件的支架

摘要 德国OWIS光学支架14.110.0000广泛应用于光学实验室用于安装光学器件的支架，带中心孔和 M4 攻丝孔

摘要 德国OWIS光学支架26.065.3803适用于多种光学元件手动翻转镜架，适用于 ø 38.1 mm (1.5“) x 6 mm，向左偏转

摘要 德国OWIS光学支架19.100.0076实现光学系统的校准用于未安装光学器件的光学器件支架 ø 75 mm / 76.2 mm (3“)

摘要 德国OWIS光学支架16.202.0056夹紧直径为56mmXY 调节安装板，带 2 个细牙螺钉，用于安装光学元件 ø 56 mm

摘要 德国OWIS光学支架16.202.0045带2个细牙螺钉XY 调节安装板，带 2 个细牙螺钉，用于安装光学元件 ø 45 毫米

摘要 德国OWIS光学支架16.100.0050有效保护光学元件用于直径 50 毫米/50.8 毫米（2 英寸）未安装光学元件的支架，包括夹紧环

摘要 德国OWIS光学支架16.100.0040方便地组装和拆卸用于直径 40 毫米/38.1 毫米（1.5 英寸）未安装光学器件的支架，包括夹紧环

摘要 德国OWIS光学支架14.202.0026用于固定安装的光学器件XY 调节安装板，带 2 个细牙螺钉，用于安装光学器件 ø 25.4 mm (1“)

摘要 德国OWIS光学支架14.202.0025可安装在销轴上XY 调节安装板，带 2 个细牙螺钉，用于安装光学元件 ø 25 毫米

摘要 德国OWIS光学支架14.100.0032具有良好的稳定性用于直径 31.5 毫米未安装光学元件的支架，包括夹紧环

摘要 德国OWIS光学支架14.100.0025与SYS 40一起使用用于直径 25 毫米/25.4 毫米（1 英寸）未安装光学元件的支架，包括夹紧环

摘要 德国OWIS光学支架14.100.0022黑色阳极氧化处理用于直径 22.4 毫米未安装光学元件的支架，包括夹紧环