台阶仪

摘要 台阶仪D-300/500

摘要 D-600可以对几纳米到1200µm的2D和3D台阶高度、粗糙度、应力进行测量。

摘要 P-17支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，单次扫描高达200mm，无需图像拼接测量。

摘要 Alpha-StepD-300探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D测量

摘要 品 牌：Bruker 产 地：德国 型 号：DEKTAK XT

摘要 日本KOSAKA ET200 台阶仪，日本KOSAKA ET200 台阶仪配备了各种型号探针，提供了通过过程控制接触力和垂直范围的探头，彩色CCD原位采集设计，可直接观察到探针工作时的状态，更方便准确的定位测试区域。

摘要 超微力台阶仪/膜厚仪StylusSurfaceProfilometers简介：超微力台阶仪/膜厚仪Alpha-StepIQ是探针接触式表面轮廓仪(台阶仪.膜厚仪)

摘要 日本KOSAKAET200接触式台阶仪日本KOSAKAET200接触式台阶仪基于Windows操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析，包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层、平板显示、触摸屏等

摘要 布鲁克DektakXT台阶仪

摘要 产品描述P-170是cassette-to-cassette探针式轮廓仪，将行业的P-17台式系统的测量性能和经过生产验证的HRP®-260的机械传送臂相结合

摘要 产品描述P-17台式探针式轮廓仪是第八代台式探针轮廓仪，是40多年的表面量测经验的结晶

摘要 产品描述Alpha-StepD-600探针式轮廓仪支持台阶高度和粗糙度的2D及3D测量，以及翘曲度和应力的2D测量

摘要 产品描述P-7台式探针式轮廓仪支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境

摘要 产品描述Alpha-StepD-500探针式轮廓仪支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D测量

摘要 产品描述HRP®-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探针式轮廓仪

摘要 产品描述Zeta-388光学轮廓仪是一种非接触式3D表面形貌测量系统

摘要 产品描述Zeta-300光学轮廓仪是一种非接触式3D表面形貌测量系统

摘要 产品描述Zeta-20台式光学轮廓仪的配置灵活并易于使用，并集合了六种不同的光学量测技术

摘要 1.北京智能型台阶仪测试在3分钟的定量负荷后心率变化情况，评定学生心血管功能，反映心肺机能水平 2.支持从电脑上集中一次性下载学生信息数据到主机,无需人工录入, 3.主机支持脱机测试和浏览/查询,测完后可以将成绩上传到电脑上,然后

摘要 性能指标扫描时最小正压力:0.03mg(软件可编程选择和自动控制,无需手动)

摘要 仪器名称：台阶仪，膜厚仪，探针接触式轮廓仪，3D轮廓仪型号美国KLA-TencorD-120检测项目：1、薄膜、涂层厚度测量；2、表面粗糙度+三维形貌；3、表面粗糙度测量；4、三坐标测量+三维形貌测量；5、2D薄膜应力测量；6、2D弯曲度和形状测量

摘要 简要描述：桌面型探针式表面轮廓仪

摘要三维表面测量仪光学轮廓仪台阶仪Super Focus3000是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、国...

摘要 三维表面测量仪轮廓仪台阶仪（纳米级）NanoFocus2000是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款检测设备,测量精度重复性达到世界较高水平;关键硬件采用美国、德国、日本等;配备进口第三方校准标准件 高性价比微观形貌测量设备;迅捷、高效的上等售后服务

摘要 台阶仪膜厚仪探针接触式轮廓仪美国KLA，垂直分辨率:0.38A，它广泛应用于太阳能薄膜材料、半导体硅片、微电子器件、薄膜化学涂层、平板显示器等研究领域。在新型薄膜材料的开发研究工作上极为重要。

摘要布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）设计创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性高达 5。第十代 DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，实现了纳米尺度的表面轮廓测量，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管...

摘要 一、仪器的功能及用途能够在大气环境下准确地测量样品表面台阶变化；使用金刚石（钻石）探针接触直动式测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用

摘要这款三维台阶仪是德国进口的高精度光学台阶仪器,也是一款光学表面台阶仪适合台阶高度测量,具有较低的进口台阶仪品牌台阶仪价格,适合对表面几何形状和表面纹理分析,以标准方案或定制性方案对二维形貌或三维形貌表面形貌和表面纹理,微米和纳米形状,圆盘,圆度,球度,台阶高度,距离,...

摘要简单介绍 美国KLA-Tencor AlphaStep台阶仪 膜厚仪 探针接触式轮廓仪 D-300，它广泛应用于太阳能薄膜材料、半导体硅片、微电子器件、薄膜化学涂层、平板显示器等研究领域。在新型薄膜...

摘要 P-7可以对nm-µm级台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接

摘要 品 牌：Bruker 产 地：德国 型 号：Dektak XTL

摘要 产品描述MicroXAM-800光学轮廓仪是一种非接触式3D表面形貌测量系统

摘要 台阶仪S1400G-LCD

摘要此型工业用台阶仪基于Windows 操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析，包括半导体硅片、太阳能基板、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层、平板显示、触摸屏等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。...

摘要 台阶仪集合了共焦光学形貌仪，WLI白光干涉形貌仪，原子力显微镜，接触和非接触式双模式表面形貌检测

摘要 探针式轮廓仪新-升级到性能德国布鲁克DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供更高的重复性和分辨率

摘要 德国布鲁克 DektakXT 台阶仪

摘要 全自动探针台阶仪HRP-260

摘要 D-600 探针式轮廓仪 膜厚仪 台阶仪

摘要 全自动台阶仪P170

摘要 台阶仪 探针式轮廓仪 膜厚仪 P17

摘要 台阶仪 探针式轮廓仪 膜厚仪 P7

摘要 P17 自动晶圆探针式轮廓仪/台阶仪

摘要 P170 全自动晶圆探针式轮廓仪/台阶仪

摘要 D300 经济型高精度台阶仪