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经典三级视频在线观看 360 560 蔡司场发射扫描电子显微镜Sigma

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具体成交价以合同协议为准
  • 型号 360560
  • 品牌
  • 所在地 南京市
  • 更新时间 2024-06-23
  • 厂商性质 其他
  • 所在地区 南京市
  • 实名认证 已认证
  • 产品数量 126
  • 人气值 329
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南京崛宇精密仪器有限公司,依托座落于国家东部科技、文化、经济中心城市南京的资源优势,于2004年全面投身于金相检测成套仪器的供应、理化检测仪器一体化服务、进口仪器、国产试验仪器、分析仪器和卫生环保仪器等产品的销售,以及各类科学仪器技术咨询、服务等相关解决方案领域。十多年的风雨兼程,让南京崛宇对行业的发展有了的领悟,我们深入的体会到为广大客户提供仪器设备,只是帮助其成长的点滴。努力为客户提供的管家式的仪器服务,是助力客户企业成长的关键,为客户创造更多的价值,也是南京崛宇自身价值观的体现。在发展过程中,我们始终坚持“立足南京、放眼全国”的发展理念,努力谋求企业的深入化发展。我们将“互联网+”思维,与自身的实际情况相融结合,构架了一套“紧握时代机遇、提升专业实力、缔造品牌价值”的网络化发展战略,为企业未来的发展指明了方向。作为一家专业的精密仪器品牌,我们不断引入的技术及设备,稳步提升企业的技术实力。为此,我们打造了全程参与样品试制、实验室的建造、设备选型、仪器安置、调试,以及人员培训、技术指导在内的全套仪器服务解决方案,赢得了广大客户朋友们的好评与青睐。南京崛宇,心怀感恩志存高远,始终站在客户的角度思考,怀着为客户提供更优质服务的态度,向着把企业打造成为“精密仪器行业青睐品牌”的伟大目标前行,为助力精密仪器行业的蓬勃发展,贡献自己更多的力量!
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蔡司Sigma拥有高品质成像和显微分析功能的FE-SEM蔡司Sigma系列产品集场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)技术与良好的用户体验于一体,助您轻松实现构建成像和分析程序,同时提高工作效率
蔡司场发射扫描电子显微镜Sigma 产品详情

蔡司Sigma

拥有高品质成像和显微分析功能的FE-SEM

蔡司Sigma系列产品集场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)技术与良好的用户体验于一体,助您轻松实现构建成像和分析程序,同时提高工作效率。您可以将其用于新材料和颗粒的质量监测,或研究生物和地质样本。Sigma可实现高分辨率成像,它采用低电压,能在1 kV或更低电压下实现更高的分辨率和对比度。它出色的EDS几何学设计可执行高级显微分析,以两倍的速度和更高的精度获取分析数据。

使用Sigma系列,畅游纳米分析世界。

  • Sigma 360是一款直观的成像和分析FE-SEM,是分析测试平台的理想之选。

  • Sigma 560采用的EDS几何学设计,可提供高通量分析,实现自动原位实验。

产品优势

Sigma 360

分析测试平台的理想之选,直观的图像采集

  • 从设置到获取基于人工智能的结果,均提供专业向导,为您保驾护航,助您探索直观成像工作流。

  • 可在1 kV和更低电压下分辨差异,实现更高的分辨率和对比度。

  • 可在条件下执行可变压力成像,获得出色的非导体成像结果。

对聚苯乙烯样品进行断裂,以了解聚合物界面处的裂纹形成和附着力。Sigma 360,C2D,3 kV,NanoVP lite模式,样品室压力60Pa。

可在条件下完成可变压力成像

用于分析和成像的NanoVP lite模式

  • 新NanoVP lite模式和新探测器很容易在电压低于5 kV时,从非导体中轻松获取高质量数据。

  • 这样,就可增强成像和X射线能谱分析的性能,提供更多表面敏感信息,缩短采集时间,增强入射电子束流,提高能谱面分布分析速度。

  • aBSD1(环形背散射电子探测器)或新一代C2D(级联电流)探测器可确保在低电压条件下采集到出色图像。

将多模式实验与Connect Toolkit相结合,或使用Materials应用程序分析显微结构、晶粒尺寸或涂层厚度

直观成像工作流为您指引方向

从设置到获取基于人工智能的结果,每一步都清晰明了

  • 即使您是新手用户,也能轻松获得专业结果。Sigma系列获取图像迅速,易于学习和使用的工作流可节省培训时间,简化从导航到后期处理的每个步骤,让您如虎添翼。

  • 蔡司SmartSEM Touch中的软件自动化可助您完成导航、参数设置和图像采集等步骤。

  • 接下来,ZEN core便可大显身手:它配备针对具体任务的工具包,适用于后期处理。我们十分推荐人工智能工具包,它可助您基于机器学习进行图像分割。

可在1 kV和更低电压条件下分辨差异

增强的分辨率。优化的衬度

  • 光学镜筒是成像和分析性能的关键。Sigma配用蔡司Gemini 1电子光学镜筒,可对任何样品提供出色的成像分辨率,尤其是在低电压条件下。

  • Sigma 360的低电压分辨率目前500 V时为1.9 nm。通过大幅度降低色差,1 kV时的分辨率已提升10%以上,可达1.3 nm。

  • 现在成像比以往任何时候都轻松,无论是要求苛刻的样品,还是在可变压力(VP)模式下采用背散射探测。

对聚苯乙烯样品进行断裂,以了解聚合物界面处的裂纹形成和附着力。Sigma 360,C2D,3 kV,NanoVP lite模式,样品室压力60Pa。

可在条件下完成可变压力成像

用于分析和成像的NanoVP lite模式

  • 新NanoVP lite模式和新探测器很容易在电压低于5 kV时,从非导体中轻松获取高质量数据。

  • 这样,就可增强成像和X射线能谱分析的性能,提供更多表面敏感信息,缩短采集时间,增强入射电子束流,提高能谱面分布分析速度。

  • aBSD1(环形背散射电子探测器)或新一代C2D(级联电流)探测器可确保在低电压条件下采集到出色图像。

将多模式实验与Connect Toolkit相结合,或使用Materials应用程序分析显微结构、晶粒尺寸或涂层厚度

直观成像工作流为您指引方向

从设置到获取基于人工智能的结果,每一步都清晰明了

  • 即使您是新手用户,也能轻松获得专业结果。Sigma系列获取图像迅速,易于学习和使用的工作流可节省培训时间,简化从导航到后期处理的每个步骤,让您如虎添翼。

  • 蔡司SmartSEM Touch中的软件自动化可助您完成导航、参数设置和图像采集等步骤。

  • 接下来,ZEN core便可大显身手:它配备针对具体任务的工具包,适用于后期处理。我们十分推荐人工智能工具包,它可助您基于机器学习进行图像分割。

Sigma 560

高通量分析,原位实验自动化

  • 对实体样品进行高效分析:基于SEM的高速和通用分析。

  • 实现原位实验自动化:无人值守测试的全集成实验室。

  • 可在低于1 kV的条件下完成要求苛刻的样品成像:采集完整的样品信息。

可在1 kV和更低电压条件下分辨差异

  • 在1 kV或甚至在500 V时实现信息量丰富的成像和分析:Sigma 560的低千伏分辨率500 V时为1.5 nm。
    在新的NanoVP lite模式下,使用新型aBSD或C2D探测器

  • 在可变压力下轻松拍摄要求苛刻的样品,加速电压可低至3 kV。

  • 正在研究电子设备的您肯定希望保持清洁的工作环境。使用等离子清洗仪(强烈推荐)和可通过6英寸晶圆的新型大尺寸样品交换舱,防止您的样品室受到污染。

氧化铝球体,在500 V表面信息敏感条件下高分辨成像,可以看到烧结颗粒的表面梯度,某些梯度之间的距离仅为3 nm。Sigma 560,500 V,Inlens SE。

对实体样品进行高效分析

EDS:通用、高速,助您深入研究

  • Sigma 560的EDS几何学设计可提高分析效率。两个180°径向相对的EDS端口确保了即使在低电压小束流条件下,也能实现高通量无阴影元素面分布。

  • 样品室的附加EBSD和WDS端口可进行除EDS外的分析。

  • 不导电样品也可以使用全新的NanoVP lite模式进行分析,并能获得更强的信号和更高的对比度。

  • 全新的aBSD4探测器可轻松实现表面形貌复杂样品的图像采集。

  • 钢原位加热和拉伸实验。同步执行SEM成像和EBSD分析,以深入研究应力应变曲线。

实现原位实验自动化

无人值守测试的全集成实验室

  • Sigma原位实验室是一种全集成式解决方案,它可以不依赖操作人员,通过无人值守的自动化工作流进行加热和拉伸测试。

  • 通过对纳米级别的特征进行3D分析进一步扩展您的工作流:执行3D STEM断层成像或基于人工智能的图像分割。

  • 新aBSD4可实现实时3D表面建模(3DSM)。

以低电压成像的碳纳米管(CNT)。Sigma 560,500 V,Inlens SE探测器。

对要求苛刻的样品能够轻松成像

可在1 kV和更低电压条件下分辨差异

  • 在1 kV或甚至在500 V时实现信息量丰富的成像和分析:Sigma 560的低千伏分辨率500 V时为1.5 nm。
    在新的NanoVP lite模式下,使用新型aBSD或C2D探测器

  • 在可变压力下轻松拍摄要求苛刻的样品,加速电压可低至3 kV。

  • 正在研究电子设备的您肯定希望保持清洁的工作环境。使用等离子清洗仪(强烈推荐)和可通过6英寸晶圆的新型大尺寸样品交换舱,防止您的样品室受到污染。

球体,在500 V表面信息敏感条件下高分辨成像,可以看到烧结颗粒的表面梯度,某些梯度之间的距离仅为3 nm。Sigma 560,500 V,Inlens SE。

对实体样品进行高效分析

EDS:通用、高速,助您深入研究

  • Sigma 560的EDS几何学设计可提高分析效率。两个180°径向相对的EDS端口确保了即使在低电压小束流条件下,也能实现高通量无阴影元素面分布。

  • 样品室的附加EBSD和WDS端口可进行除EDS外的分析。

  • 不导电样品也可以使用全新的NanoVP lite模式进行分析,并能获得更强的信号和更高的对比度。

  • 全新的aBSD4探测器可轻松实现表面形貌复杂样品的图像采集。

技术

Gemini电子光学镜筒横截面示意图,包含电子束推进器、Inlens探测器和Gemini物镜。

Gemini 1电子光学系统

  • Gemini 1电子光学系统由三个元件组成:物镜、电子束推进器和Inlens探测器。其中,物镜的设计将静电场与磁场相结合,大大优化光学性能的同时,降低了样品受到的磁场影响。

  • 如此也可实现对磁性材料等具有挑战性的样品的高品质成像。Inlens探测原理通过对二次电子(SE)和/或背散射电子(BSE)的探测来确保高效的信号检测,同时大幅缩短获取图像的时间。

  • 电子束推进器保证了小尺寸的电子束斑和高信噪比。

Gemini 1光学镜筒与探测器横截面示意图

以灵活的探测获取清晰图像

  • Sigma配备了一系列不同的探测器,通过新探测技术对您的样品进行表征。

  • 使用ETSE和Inlens探测器的高真空模式可获取表面形貌的高分辨率信息。

  • 使用VPSE或C2D探测器的可变压力模式可获得清晰图像。

  • 使用aSTEM探测器可进行高分辨率透射电子成像。

  • 采用不同的可选BSE探测器,如aBSD探测器,可以深入研究样品的成分和表面形貌。

标准VP(左)和NanoVP lite(右)模式,气体分布(粉红色),电子束裙边(绿色)。

NanoVP lite模式

采用NanoVP lite模式进行分析和成像,在低电压条件下可获得更高的图像质量,更快速地获取更准确的分析数据。

  • 在NanoVP lite模式下,裙边效应降低且电子束的气体路径长度(BGPL)减小。裙边减小会提高SE和BSE成像的信噪比。

  • 带有五象限的可伸缩式的环形aBSD可提供出色的材料成分衬度:在NanoVP lite工作过程中,该探测器配备了安装在极靴下方的束流套管,其可提供低电压下的高通量高衬度成分和表面形貌成像,适用于可变压力和高真空条件。

    可选附件

    电镜可选附件用于增强和拓展电子显微镜功能,具体产品涵盖了从样品制备到成像、分析等所有步骤的需求。应用范围包括材料科学、生命科学、地球物理学、电子学,能源科学等领域。

    产品 类别

    产品名称

    产品简介

    分析设备

    能谱仪

    检测 特征 X 射线 能量, 称为 能量色散谱仪 E nergy Dispersive Spectroscopy 简称 能谱仪 EDS )。 主要是 材料 微区 化学成分 进行 定性及定量分析, 可以 用于 金属、 高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析 等。例如:在 扫描电镜下可以 结合 夹杂物形态 成分 进行分析; 固体材料的表面涂层、镀层进行分析 ;结合 EBSD 对未知 材料进行相鉴定等

    波谱仪

    利用 晶体衍射分光检测感兴趣的特征 X 射线 波长, 称为 波长色散谱仪 (W avelength Dispersive Spectroscopy ) 简称波谱仪( WDS 。与能谱仪 相比, 波谱仪 能量 分辨率 高, 可以将能量 非常接近 的谱线 区分开 同时 具有更低 的元素检测限, 检测元素含量至 0.1 ‰。

    背散射电子衍射探测器

    电子 背散射衍射( E lectron Backscatter Diffraction ,简称 EBSD 技术,是基于 扫描电镜中电子束在倾斜样品表面激发形成的衍射菊池带的 分析 ,从而确定晶体结构、 取向、晶界类型、微 织构 组成及 应变 分布 等相关信息 ,是快速而准确的获得晶体取向信息的强有力的分析工具。 EBSD 技术可用于各种晶体 材料 ——金属、陶瓷、半导体 地质、矿石的分析 结合 形貌、能谱信息,可以 解决 在形变 、再结晶、相变、断裂、腐蚀 过程的 问题

    加热台

    扫描电镜高温加热台可以动态地观察温度变化时材料微观组织、结构的变化及失效分析,通入气体可进行高温气体反应的观察,结合 EBSD 可进行不同温度下原位 EBSD 实验,用于观察晶体材料的相变过程、再结晶形核及长大过程、晶界处的变化等。 Gatan 系列的加热台具有温度精度高、稳定性好、结构紧凑、样品座方便拆卸等优点。被广泛应用于液晶检测、半导体、高分子材料、流体包裹体、生物工程等众多领域,在冶金材料领域,结合 EBSD 进行再结晶及相变过程的观察等。

    冷冻台

    低温氮气制冷样品台模块,可安装在现有的 SEM 样品台上。广泛应用于:电子束敏感材料 - 如高分子、地质样品、低温冷却后可做微量分析;半导体材料及超导材料 - 研究低温相及性能;阴极发光及 EBIC 应用。



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