日本 Pascal 公司的 (TOFLAS) 原子散乱表面分析仪器是应用于表面分析 & 元素分析的。
· 表面结构可视觉直观评估
· *不受电场和磁场影响 in-situ 分析
· 单一原子层或结晶尺度的成长监测
· 薄膜 , 超薄膜 , 单层薄膜 , 石墨烯 …等绝缘 , 半导体 & 金属
· 最表面数层非常灵敏
· 加热范围: ~1000 ℃
· 能适应广泛的基底材料背景
· 不适合高氧气分压环境
· 激光加热: ~1300 ℃
· *的耐高温能力
· 直径: φ10mm
· 灯丝加热: ~600 ℃